压力追踪差示扫描量热仪作为一种研究材料在可控程序温度下的热效应的经典热分析方法，在当今各类材料与化学领域的研究开发、工艺优化、质检质控与失效分析等各种场合早已得到了广泛的应用。利用该方法能研究无机材料的相转变，高分子材料熔融与结晶过程，药物的多晶型现象，油脂等食品的固/液相比例等等。应用范围非常广，特别是材料的研发、性能检测与质量控制，如高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应测定、高聚物材料的结晶、熔融温度及其热效应测定、高聚物材料的玻璃化转变温度。
下面再来看看压力追踪差示扫描量热仪的构成部分：
1.加热系统
加热系统提供测试所需的温度条件，根据炉温可分为低温炉（＜250℃）、普通炉、高温炉（可达2400℃）；按结构形式可分为微型、小型，立式和卧式。系统中的加热元件及炉芯材料根据测试范围的不同而进行选择。
2.温度控制系统
温度控制系统用于控制测试时的加热条件，如升温速率、温度测试范围等。它一般由定值装置、调节放大器、可控硅调节器（PID-SCR）、脉冲移相器等组成，随着自动化程度的不断提高，大多数已改为微电脑控制，提高的控温精度。
3.信号放大系统
通过直流放大器把差热电偶产生的微弱温差电动势放大、增幅、输出，使仪器能够更准确的记录测试信号。
4.差热系统
差热系统是整个装置的核心部分，由样品室、试样坩埚、热电偶等组成。其中热电偶是其中的关键性元件，即使测温工具，又是传输信号工具，可根据试验要求具体选择。
5.气氛控制系统和压力控制系统
该系统能够为试验研究提供气氛条件和压力条件，增大了压力追踪差示扫描量热仪的测试范围。
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